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节瘤缺陷对薄膜热力损伤的有限元分析

Thermal-stress response of nodule defects in multi-layer optical thin film based on finite element method

作     者:凌秀兰 黄伟 张云洞 LING Xiu-lan;HUANG Wei;ZHANG Yun-dong

作者机构:中国科学院光电技术研究所 

出 版 物:《光电工程》 (Opto-Electronic Engineering)

年 卷 期:2005年第32卷第4期

页      面:16-18,23页

核心收录:

学科分类:08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 

主  题:多层介质薄膜 激光损伤 热应力 有限元分析 节瘤缺陷 

摘      要:在多层介质薄膜中,节瘤缺陷是影响薄膜激光损伤的关键因素。为了理解节瘤缺陷对薄膜激光损伤的影响,以热传导理论为依据,通过有限元方法模拟了多层介质薄膜中的节瘤缺陷在激光辐照下的热力响应,分析了节瘤缺陷的大小和深度对热力响应的灵敏度。发现大而浅的节瘤缺陷有较高的热力响应灵敏度,因此,消除直径较大的膜层表面附近的缺陷有助于提高薄膜抗激光损伤的能力。

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