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分时模式(STM)-双频率测试的解决之道

作     者:A.T.Sivaram 张骅 

作者机构:NPTest International Inc 

出 版 物:《中国集成电路》 (China lntegrated Circuit)

年 卷 期:2003年第12卷第52期

页      面:45-51页

学科分类:080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学] 

主  题:分时模式 STM 双频率测试 芯片器件 时域 

摘      要:本文主要介绍分时模式(Split Timing Mode,STM),一种双时钟的 ATE 架构。运用该机制可使某些测试通道运行在和其他通道不同的工作频率上,极大方便测试工程师测试和分析此类芯片器件。本文详细描述了 STM 的实现方法,并提供了一个应用实例说明以上观点。

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