分时模式(STM)-双频率测试的解决之道
出 版 物:《中国集成电路》 (China lntegrated Circuit)
年 卷 期:2003年第12卷第52期
页 面:45-51页
学科分类:080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学]
摘 要:本文主要介绍分时模式(Split Timing Mode,STM),一种双时钟的 ATE 架构。运用该机制可使某些测试通道运行在和其他通道不同的工作频率上,极大方便测试工程师测试和分析此类芯片器件。本文详细描述了 STM 的实现方法,并提供了一个应用实例说明以上观点。