分形盒维数抗噪研究及其在故障诊断中的应用

作     者：郝研 王太勇 万剑 张攀 刘路 Hao Yan;Wang Taiyong;Wan Jian;Zhang Pan;LIu Lu

作者机构：天津大学精密仪器与光电子工程学院天津300072 天津大学机械工程学院天津300072 

出 版 物：《仪器仪表学报》 (Chinese Journal of Scientific Instrument)

年 卷 期：2011年第32卷第3期

页      面：540-545页

核心收录：

学科分类：0711[理学-系统科学] 07[理学] 08[工学] 080401[工学-精密仪器及机械] 0804[工学-仪器科学与技术] 080402[工学-测试计量技术及仪器] 

基　　金：国家自然科学基金(50975193) 国家科技重大专项(2009ZX04014-101-05)资助项目 

主　　题：分形 盒维数 抗噪性 故障诊断 滤波 

摘      要：针对不同噪声强度的影响,分析了分形盒维数的抗噪能力。实验结果表明:在信噪比较大时,分形盒维数基本不受影响,能够反映信号的真实分形特征;当信噪比较小时,分形盒维数的值随着噪声的增强而变大,并且具有明显的线性关系。由于分形盒维数具有抗噪性,当滤波方法比较简单时,仍然可以在一定程度上体现信号的非线性特征。因此,分形盒维数具有一定的抗噪性,可以在机械故障诊断中得到更广泛的应用。