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一种基于MCS-51单片机的电容测试仪

A capacitance tester based on MCS-51 MCU

作     者:曲家兴 燕思嘉 苍鹤 QU Jia-xing;YAN Si-jia;CANG He

作者机构:黑龙江省电子信息产品监督检验院哈尔滨150090 

出 版 物:《信息技术》 (Information Technology)

年 卷 期:2011年第35卷第6期

页      面:170-172,176页

学科分类:08[工学] 0835[工学-软件工程] 081202[工学-计算机软件与理论] 0812[工学-计算机科学与技术(可授工学、理学学位)] 

主  题:电容测试仪 单片机 量程 精度 

摘      要:针对现有的电容测量仪器量程不高且精度有限问题,使用AT89C51单片机、NE555单稳态电路及LED数码显示,通过程序设计,实现了一种直观、经济的电容测试仪。实验表明,该仪器提高了电容量程和测量精度,性能稳定可靠,可广泛应用于电容等电子元器件检测之中。

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