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液晶中正电子湮没的研究

A study of positron annihilation in liquid crystal

作     者:尹传元 孙政民 沈德勋 

作者机构:南京大学 

出 版 物:《核技术》 (Nuclear Techniques)

年 卷 期:1991年第14卷第9期

页      面:532-534页

核心收录:

学科分类:07[理学] 070205[理学-凝聚态物理] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 0703[理学-化学] 0702[理学-物理学] 

主  题:液晶 正电子湮没 相变 

摘      要:在加热和冷却过程中,分别测量了EBBA样品的正电子湮没寿命和差示扫描量热(DSC)曲线。结果表明短寿命(τ_S)基本不变,而长寿命(τ_L)和强度(I_L)明显地变化;在加热和冷却过程中向列相——晶体转变温度Tc(K)不同。这一现象可以用ORE模型和液晶在相变过程的微观结构变化来解释。

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