无源效率刻度法测量高浓铀浓缩度
The Measurement of Enrichment of HEU by ISOCS作者机构:中国工程物理研究院四川绵阳621900
出 版 物:《核电子学与探测技术》 (Nuclear Electronics & Detection Technology)
年 卷 期:2012年第32卷第6期
页 面:650-652,685页
核心收录:
学科分类:082704[工学-辐射防护及环境保护] 0808[工学-电气工程] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学] 0804[工学-仪器科学与技术] 0827[工学-核科学与技术] 0703[理学-化学] 1009[医学-特种医学] 0702[理学-物理学]
摘 要:利用HPGe谱仪测量了高浓铀样品γ谱,分析γ谱中235U的特征γ射线163和186 keV以及238U的特征γ射线1 001 keV的峰面积。利用ISOCS软件建立测量模型,对这几条γ射线进行了无源效率刻度。实验结果显示,测量值与参考值相差+1.1%,其误差主要来源于无源效率刻度计算和峰面积计算。