激光干涉法检测回流离子特征参数的实验研究

作     者：程健 符柱 禹海军 张永合 江孝国 陈楠 CHENG Jian;FU Zhu;YU Hai-jun;ZHANG Yong-he;JIANG Xiao-guo;CHEN Nan

作者机构：中国科学技术大学自动化系合肥230027 中国工程物理研究院流体物理研究所四川绵阳621900 

出 版 物：《强激光与粒子束》 (High Power Laser and Particle Beams)

年 卷 期：2008年第20卷第5期

页      面：844-848页

核心收录：

学科分类：0808[工学-电气工程] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 081201[工学-计算机系统结构] 0702[理学-物理学] 0812[工学-计算机科学与技术（可授工学、理学学位）] 

基　　金：国家自然科学基金委员会-中国工程物理研究院联合基金资助课题(10576032) 

主　　题：回流离子 激光干涉法 X射线源 焦斑 特征参数 

摘      要：分析了回流离子基本物理特性及特征参数的检测与信号处理方法,设计了激光干涉实验方案。简要介绍了该实验方案的优缺点,并针对具体实验调试工作中出现的不利于信号检测的问题,总结出了解决方法:严格按照成像质量要求进行光学元器件的设计、加工、选型、调试,可获得较为理想的静态干涉图像;在激光干涉条纹输出与分幅相机之间增加一定缩束比例的缩束镜,可获得动态干涉图像;采用铅等重金属材料对分幅相机进行屏蔽可提高测量图像的信噪比;在6μs时间段内,采用变时延和时间间隔的方法,获得了回流离子的状态信息。最后对实验所获得的干涉图像进行了分析处理,获得了假设条件下回流离子的密度分布。