化学气相沉积制备纳米结构碳化钨薄膜(英文)
Preparation of nanostructure tungsten carbide thin films by PECVD from WF_6/CH_4/H_2 mixtures出 版 物:《功能材料》 (Journal of Functional Materials)
年 卷 期:2005年第36卷第5期
页 面:789-793页
核心收录:
学科分类:08[工学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)]
主 题:碳化钨 纳米结构薄膜 等离子增强化学气相沉积
摘 要:采用氟化钨(WF6)和甲烷(CH4)为前驱体,采用等离子体增强化学气相沉积(PECVD)方法制备具有纳米结构的碳化钨薄膜。采用SEM、XRD、EDS等方法表征了碳化钨薄膜的形貌、晶体结构和化学组成。通过表征,表明在前驱体混合气体中的甲烷与氟化钨气体的流量比(碳钨比)为20、基底温度为800℃的条件下得到的碳化钨薄膜是由直径为20~35nm的圆球状纳米晶构成。通过分析影响薄膜的晶体结构、化学组成的因素后,认为要得到具有纳米晶结构的碳化钨薄膜,主要应控制前驱体气体中的碳钨比以及基底温度。