二水平设计离散偏差和对称化L_2偏差紧的下界
Lower Bounds to Discrete Discrepancy and Symmetric L_2 Discrepancy in Two Level Fractional Factorial Designs作者机构：吉首大学师范学院湖南吉首416000 吉首大学数学与统计学院湖南吉首416000
出 版 物：《吉首大学学报（自然科学版）》 (Journal of Jishou University(Natural Sciences Edition))
年 卷 期：2014年第35卷第3期
页 面：20-22页
学科分类：02[经济学] 0202[经济学-应用经济学] 020208[经济学-统计学] 07[理学] 0714[理学-统计学（可授理学、经济学学位）] 070103[理学-概率论与数理统计] 0701[理学-数学]
基 金：国家自然科学基金项目(11201177) 湖南省教育厅科研项目(12C0287) 湖南省教育厅优秀青年项目(14B146) 吉首大学校级科研项目(13JDY041) 吉首大学学成返校博士科研项目(JSDXXCFXBSKYXM201113)
摘 要：基于现有的均匀性测度公式,利用Langrange乘数法和Taylor公式得到二水平设计离散偏差和对称化L2偏差紧的下界,最后通过2个例子来验证其结论.
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