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追踪算法在纳米晶粒薄膜散射研究中的应用

Study of Ray Tracing Algorithm in The Scattering of Nano-particle Thin Films

作     者:徐天华 宋晨路 刘涌 韩高荣 XU Tian-hua;SONG Chen-lu;LIU Yong;HAN Gao-rong

作者机构:浙江大学材料系浙江杭州310027 

出 版 物:《材料科学与工程学报》 (Journal of Materials Science and Engineering)

年 卷 期:2006年第24卷第1期

页      面:128-131页

核心收录:

学科分类:08[工学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 

主  题:蒙特卡罗方法 光线追踪算法 梯度折射率薄膜 

摘      要:本文通过光线追踪算法结合基于麦克斯韦方程解的蒙特卡洛方法,模拟了光在梯度折射率指数硅/非晶硅(C-Si/a-Si)复合薄膜中的传播情况。文中将梯度折射率指数薄膜考虑成多层均匀折射率薄膜的叠加,每一层的折射率由该层所在位置决定。通过对透射、反射光子在梯度折射率指数薄膜中运动的统计研究,讨论梯度折射率指数薄膜的减反射性能。模拟结果获得了薄膜中粒子的浓度、粒子直径大小以及折射率梯度变化对薄膜反射率的影响规律,这有助于低反射率薄膜的设计,以期解决目前较为引人关注的镀膜玻璃光污染问题。

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