追踪算法在纳米晶粒薄膜散射研究中的应用
Study of Ray Tracing Algorithm in The Scattering of Nano-particle Thin Films作者机构:浙江大学材料系浙江杭州310027
出 版 物:《材料科学与工程学报》 (Journal of Materials Science and Engineering)
年 卷 期:2006年第24卷第1期
页 面:128-131页
核心收录:
学科分类:08[工学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)]
摘 要:本文通过光线追踪算法结合基于麦克斯韦方程解的蒙特卡洛方法,模拟了光在梯度折射率指数硅/非晶硅(C-Si/a-Si)复合薄膜中的传播情况。文中将梯度折射率指数薄膜考虑成多层均匀折射率薄膜的叠加,每一层的折射率由该层所在位置决定。通过对透射、反射光子在梯度折射率指数薄膜中运动的统计研究,讨论梯度折射率指数薄膜的减反射性能。模拟结果获得了薄膜中粒子的浓度、粒子直径大小以及折射率梯度变化对薄膜反射率的影响规律,这有助于低反射率薄膜的设计,以期解决目前较为引人关注的镀膜玻璃光污染问题。