适于12位和16位A/D转换器LSI的片上校准技术
出 版 物：《微电子学》 (Microelectronics)
年 卷 期：1989年第19卷第6期
页 面：68-73页
学科分类：08[工学] 081201[工学-计算机系统结构] 0812[工学-计算机科学与技术（可授工学、理学学位）]
摘 要：晶体半导体公司研制了分辨率为16位、最大转换速度50k次/秒的A/D转换器和分辨率为12位、最大转换速度1M次/秒的A/D转换器LSI。这两种A/D转换器LSI都具有自校准非线性误差的功能,这种功能可调整与各位相对应的2~N(N是位数)个加权电容器的电容比。各位的电容器由偶数个小容量电容器构成,改变电容器数量的同时即可进行校准。用集成在芯片上的微计算机控制校准操作,可以使LSI制造过程中的试验变得简单。即使在用户正在使用着的系统上也能够自动进行校准,因而对温度变化和时效变化也能够进行补偿。
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