应用经验正交函数估算顶部电离层电子密度剖面

作     者：王林 万卫星 乐新安 任志鹏 佘承莉 WANG Lin;WAN WeiXing;YUE XinAn;REN ZhiPeng;SHE ChengLi

作者机构：地球与行星物理重点实验室中国科学院地质与地球物理研究所北京100029 中国科学院地球科学研究院北京100029 中国科学院大学地球与行星科学学院北京100049 

出 版 物：《地球物理学报》 (Chinese Journal of Geophysics)

年 卷 期：2019年第62卷第5期

页      面：1582-1590页

核心收录：

学科分类：0709[理学-地质学] 0819[工学-矿业工程] 07[理学] 070802[理学-空间物理学] 0707[理学-海洋科学] 0708[理学-地球物理学] 0825[工学-航空宇航科学与技术] 0704[理学-天文学] 

基　　金：国家自然科学基金重大仪器专项(41427901) 基金委创新群体(41621063)资助 

主　　题：数字测高仪 IRI TEC 经验正交函数 顶部电离层 电子密度 

摘      要：本文基于IRI模型、地面数字测高仪和GNSS TEC数据,提出了一种利用经验正交函数(Empirical Orthogonal Function,简称EOF)估算顶部电离层电子密度剖面的方法,并将其应用于美国Millstone Hill测高仪和GNSS数据以估算顶部电离层电子密度剖面.通过将估算的临界频率、峰值高度、400km以上电子密度分别与测高仪实测临界频率、测高仪实测峰值高度以及非相干散射雷达实测400km以上电子密度作对比以对方法的有效性进行验证.统计结果显示估算临界频率、峰值高度与测高仪实测数据基本一致,400km以上估算电子密度相较于非相干散射雷达实测的绝对误差平均值仅是测高仪推算400km以上电子密度绝对误差平均值的一半左右.所以本文提出的方法可以更加精确地估算顶部电离层电子密度.