单模光纤中弯曲损耗的测试与分析
Analysis and Test of Bend Loss in Single-mode Fiber作者机构：上海交通大学光纤技术研究所上海200030
出 版 物：《光子学报》 (Acta Photonica Sinica)
年 卷 期：2003年第32卷第4期
页 面：409-412页
核心收录：
学科分类：070207[理学-光学] 07[理学] 08[工学] 0803[工学-光学工程] 0702[理学-物理学]
主 题：单模光纤 弯曲损耗 测试 分析 弯曲半径 波长 振荡 耦合 光纤通信
摘 要：对单模光纤中弯曲损耗随弯曲半径 ( 1～ 8mm)和波长 ( 15 30～ 15 65nm)变化的实验进行了测试 ,结果显示弯曲损耗随弯曲半径和波长呈现振荡 .理论分析表明由于光纤纤芯中的基模和在包层以及涂覆层中传播的Whispering gallery模式之间的耦合 ,引起了弯曲损耗的振荡 。
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