具有方向特性的X角点的亚像素检测定位
Sub-pixel X-corner detection and location with directional characteristics作者机构:北京航空航天大学宇航学院北京100191
出 版 物:《北京航空航天大学学报》 (Journal of Beijing University of Aeronautics and Astronautics)
年 卷 期:2015年第41卷第4期
页 面:580-588页
核心收录:
学科分类:1305[艺术学-设计学(可授艺术学、工学学位)] 13[艺术学] 081104[工学-模式识别与智能系统] 08[工学] 0804[工学-仪器科学与技术] 081101[工学-控制理论与控制工程] 0811[工学-控制科学与工程]
基 金:国家科技支撑资助项目(2013BAF07B02) 中央高校基本科研业务费专项资金资助项目(YWF-14-YHXY-015)
摘 要:X角点被广泛应用于相机标定与可见光视觉跟踪系统,不仅具有位置信息,还可以具有方向信息.针对X角点的精确位置检测和方向检测,提出了一种利用X角点对称性的检测与定位算法——对称性计算算子(SC,Symmetry Calculation),简称SC算子.该算法主要由两部分组成.先利用对称性计算值确定X角点像素位置,然后基于二次曲线拟合及直线相交求亚像素位置.通过角点定位实验,仿真分析高斯噪声和畸变对定位精度及鲁棒性的影响,并与Harris算法及Micron Tracker系统进行比较.实验表明,本文方法能有效检测X角点,排除其他类型的角点和干扰点,具有较高的定位精度和鲁棒性.