暗物质探测实验液氩反符合探测器杂质影响分析

作     者：刘伟容 曾志 岳骞 陈庆豪 苏健 马豪 程建平 LIU Wei-rong;ZENG Zhi;YUE Qian;CHEN Qing-hao;SU Jian;MA Hao;CHENG Jian-ping

作者机构：清华大学工程物理系粒子技术与辐射成像教育部重点实验室高能辐射成像重点学科实验室北京100084 

出 版 物：《核电子学与探测技术》 (Nuclear Electronics & Detection Technology)

年 卷 期：2013年第33卷第3期

页      面：272-274,295页

学科分类：082704[工学-辐射防护及环境保护] 0808[工学-电气工程] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 0804[工学-仪器科学与技术] 0827[工学-核科学与技术] 0703[理学-化学] 1009[医学-特种医学] 0702[理学-物理学] 

基　　金：国家自然科学基金资助项目(11175099 11075090 11035002) 清华大学自主科研计划资助(2011THZ07) 

主　　题：液氩探测器 杂质影响 反符合 中国暗物质实验 

摘      要：CDEX装置采用液氩反符合屏蔽方法降低本底,液氩中的杂质可能会对反符合效率造成影响。CDEX装置反符合效率与高纯锗晶体总探测效率、液氩探测器总探测效率有关。6个因素会影响液氩探测器总探测效率。液氩中的杂质会改变慢成分衰减时间。杂质通过焠灭和吸收作用,降低闪烁光产额和吸收闪烁光子,进而降低反符合探测效率。以氮和氧为例,计算了不同含量时发生的焠灭作用对于反符合效率的影响。结果表明,仅考虑焠灭作用条件下,为了使反符合效率达到90%以上,需要将液氩介质中的氮和氧含量降低到约100 ppb量级。