普通型与矮生型梨叶片显微结构比较
Comparison of Micro-structures of Leaves between Standard and Dwarf Pears作者机构：青岛农业大学园林园艺学院
出 版 物：《西北植物学报》 (Acta Botanica Boreali-Occidentalia Sinica)
年 卷 期：2010年第30卷第8期
页 面：1584-1588页
核心收录：
学科分类：0710[理学-生物学] 071001[理学-植物学] 07[理学]
基 金：山东良种产业化工程项目
摘 要：应用扫描电镜和石蜡切片方法,对普通型和矮生型梨叶片的显微结构进行比较分析.结果表明：普通型和矮生型梨的叶片上表皮均有大量蜡质分布,气孔均分布在叶片下表皮,而矮生型蜡质层更厚.普通型和矮生型梨气孔器平均长轴×短轴分别为25.42μm×19.39μm和29.52μm×16.85μm,气孔平均长×宽分别为17.73μm×5.37μm和20.59μm×4.07μm;普通型和矮生型梨的叶片厚度平均值分别为196.35和227.99μm,栅栏组织厚度平均值分别为54.93和79.13μm,栅栏组织/海绵组厚度比平均分别为0.80和1.16.可见,野生型梨的叶片表皮蜡质层更厚,气孔更狭长,开度更小,叶片厚度和栅栏组织厚度显著较大,栅海比大于1,表现出抗旱耐寒的叶片结构特征.
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