用于Z箍缩X辐射谱诊断的柱面凸晶摄谱仪的性能分析

作     者：叶凡 郭存 李正宏 杨建伦 徐荣昆 秦义 薛飞彪 YE Fan;GUO Cun;LI Zheng-hong;YANG Jian-lun;XU Rong-kun;QIN Yi;XUE Fei-biao

作者机构：清华大学工程物理系北京100084 中国工程物理研究院核物理与化学研究所四川绵阳621900 

出 版 物：《强激光与粒子束》 (High Power Laser and Particle Beams)

年 卷 期：2008年第20卷第3期

页      面：383-386页

核心收录：

学科分类：07[理学] 08[工学] 070204[理学-等离子体物理] 0702[理学-物理学] 

基　　金：国家自然科学基金重点资助课题(10035030) 

主　　题：丝阵Z箍缩 X辐射谱 柱面凸晶摄谱仪 光线追迹 

摘      要：考虑X光源的空间尺寸和晶体的摇摆曲线,用光线追迹方法计算了诊断丝阵Z箍缩等离子体X辐射谱的柱面凸晶摄谱仪的色散、能谱分辨和空间分辨以及系统参数对它们的影响。结果表明:决定柱面凸晶摄谱仪能谱分辨的主要因素是光源尺寸以及光源-晶体之间距离;增大光源-晶体之间距离能够改善能谱分辨,但导致径向空间分辨能力下降。并依此建立了云母晶体摄谱仪,在强光一号装置上对系统进行了测试,获得时间积分铝丝阵负载Z箍缩等离子体X辐射谱。