基于微扫描的焦平面阵列成像特性研究
Research on the FPA imaging character based on microscanning作者机构：西安电子科技大学技术物理学院陕西西安710071 西安应用光学研究所陕西西安710065
出 版 物：《西安电子科技大学学报》 (Journal of Xidian University)
年 卷 期：2005年第32卷第3期
页 面：392-395,413页
核心收录：
学科分类：080901[工学-物理电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 080401[工学-精密仪器及机械] 0804[工学-仪器科学与技术] 0803[工学-光学工程]
基 金：国家自然科学基金资助项目(60277005 60477038) 高等学校博士学科点专项科研基金资助项目(20030701003)
主 题：焦平面阵列成像 微扫描 采样平均传递函数 欠采样噪声 占空比
摘 要：在分析微扫描成像原理的基础上,利用固有奈奎斯特频率处的采样平均传递函数作为度量因子,定量表征了不同微扫描模式对焦平面成像系统成像质量的改进程度,得出微扫描模式与探测器占空比的最优对应关系;以一幅768×768的辐条图像作为原始目标,针对100%,50%两种占空比的探测器,采用像素处理方法,仿真了不同微扫描模式的成像过程,结果证明微扫描成像仿真效果与理论分析的一致性.
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