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无规分形衬底上银膜逾渗系统的交流特性

AC CHARACTERISTICS OF A THIN Ag FILM PERCOLATION SYSTEM DEPOSITED ON A STATISTICAL FRACTAL SUBSTRATE

作     者:叶高翔 许宇庆 王劲松 张其瑞 

作者机构:杭州大学物理系杭州310028 浙江大学物理系杭州310027 

出 版 物:《物理学报》 (Acta Physica Sinica)

年 卷 期:1994年第43卷第4期

页      面:651-654页

核心收录:

学科分类:08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 0704[理学-天文学] 

主  题:银膜 薄膜 逾渗系统 交流特性 

摘      要:通过对沉积在具有无规自相似结构的α-Al_2O_3断裂面上的银薄膜逾渗系统交流特性的测量,证明了在逾渗阈值Po附近这一系统的交流电导率和介电常数满足指数临界规律和普适标度关系。还给出了这种逾渗系统的电容与直流电阻的关系,并对其意义作了讨论。

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