原子力显微镜的基本原理及应用
Principles and Applications of Atomic Force Microscopy作者机构：青岛西海岸新区胶南一中山东青岛266400
出 版 物：《化学教育（中英文）》 (Chinese Journal of Chemical Education)
年 卷 期：2019年第40卷第4期
页 面：10-15页
摘 要：先进的测试表征技术是认识微观世界的重要手段,对于尺度和维度观的培养具有重要意义。不同于传统光学显微镜和电子显微镜,原子力显微镜是通过其探针原子与样品的表面原子的作用力来实现对样品表面形貌观测的。简述了原子力显微镜的基本原理和基本构造,阐释了其核心部件及功能。原子力显微镜主要有4种工作模式,比较了它们的优劣及应用范围。最后对原子力显微镜在分析测试中的实际应用进行了简述,展现了原子力显微镜的优越性与广阔的应用前景。
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