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基于Multisim的晶体管输出特性曲线测试

Multisim Based Testing Mean of the Transistor Output Characteristic Curve

作     者:邓玉元 黄天禄 蒋卓勤 

作者机构:西安通信学院陕西西安710108 

出 版 物:《现代电子技术》 (Modern Electronics Technique)

年 卷 期:2003年第26卷第7期

页      面:48-49页

学科分类:08[工学] 0835[工学-软件工程] 081202[工学-计算机软件与理论] 0812[工学-计算机科学与技术(可授工学、理学学位)] 

主  题:输出特性曲线 Multisim 直流扫描分析 后处理 

摘      要:Multisim是一个专门用于电子线路仿真与设计的 EDA工具软件。简要介绍了利用

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