平面波谱理论在紧缩场干扰源分析中的应用
CATR Extraneous Source Analysis Using Plane Wave Spectrum Approach作者机构：北京航空航天大学电子工程系100083
出 版 物：《电子学报》 (Acta Electronica Sinica)
年 卷 期：2002年第30卷第12期
页 面：1794-1796页
核心收录：
学科分类：080901[工学-物理电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学]
主 题：平面波谱 干扰源 紧缩场 雷达散射截面 切比雪夫窗 天线 测试场地
摘 要：紧缩场(CATR)是近代高精度天线和雷达散射截面测量广泛采用的一种测试场地,紧缩场研制的一个重要问题是机械装调后的电气测试调整.根据平面波谱理论,对静区空间场做反傅里叶变换,可以在角度域反演出干扰波分布规律,从而为排除干扰源提供理论依据.本文给出了一列干扰波和多列干扰波存在时静区幅相曲线和角域干扰波分布的仿真结果,并介绍了工程应用的一个具体实例.分析中采用副瓣电平可调的切比雪夫窗函数.
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