集成电路辐射敏感度混响室测试方法
Radiated Immunity Test of Integrated Circuits in Reverberation Chamber Teseq GmbH Ralf Heinrich Robert Bechly出 版 物：《安全与电磁兼容》 (Safety & EMC)
年 卷 期：2014年第5期
页 面：74-76,84页
学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学]
摘 要：介绍了混响室测试法的工作原理,并通过对GTEM法与混响室法的测试方法和测试结果的对比分析,表明混响室测试方法在1 GHz以上的高频范围测量集成电路(IC)的辐射敏感度更有优势。
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