环中环结构谐振腔中的耦合谐振透明特性研究
Research on CRIT property in ring-in-ring structure resonator作者机构:哈尔滨工业大学光电子技术研究所哈尔滨150080
出 版 物:《物理学报》 (Acta Physica Sinica)
年 卷 期:2009年第58卷第11期
页 面:7672-7679页
核心收录:
学科分类:080903[工学-微电子学与固体电子学] 080804[工学-电力电子与电力传动] 080805[工学-电工理论与新技术] 0808[工学-电气工程] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学]
基 金:国家自然科学基金(批准号:60478014 60878006) 国家高技术研究发展计划(863)(批准号:2007AA12Z112)资助的课题~~
摘 要:在考虑耦合器插入损耗的情况下,理论分析了环中环结构谐振腔的耦合谐振透明效应.利用迭代法推导了整个结构的透过系数和有效相移,从而得到考虑了插入损耗的该结构的色散.研究表明,整个结构的有效相移,群速度和带宽,可通过耦合器的插入损耗、环中环结构中环与环周长之间的倍数以及环的个数来控制,这在旋转传感、光学时延线、光缓存、滤波等方面的应用有重要意义.