干涉条纹可见度随光源线度和谱宽变化规律探析
The Exploration of the Rectanguarity of Variance with Light Source Dimension and Spectrum Width
作 者：洪林
作者机构：江苏盐城职业大学高教研究室
出 版 物：《信息工程学院学报》 (Journal of Information Engineering University)
年 卷 期：1995年第14卷第4期
页 面：20-26页
学科分类：070207[理学-光学] 07[理学] 08[工学] 0803[工学-光学工程] 0702[理学-物理学]
主 题：光源线度 谱宽 条纹可见度 干涉
摘 要：本文从单色线光源的光强分布出发，探讨了在一般情况下，光源的线度与谱宽对干涉条纹可见度的影响，并以杨氏双缝干涉为例，得到干涉条纹可见度随光源线度和谱宽均按ＳｉｎＣ函数规律变化的结论。
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