咨询与建议

看过本文的还看了

相关文献

该作者的其他文献

文献详情 >精细线路PCB对AOI检测技术的挑战 收藏

精细线路PCB对AOI检测技术的挑战

The Challenges of AOI Inspection of Fine-Line PCBs

作     者:吴梅珠 吴小龙 

作者机构:江南计算技术研究所无锡214083 

出 版 物:《印制电路信息》 (Printed Circuit Information)

年 卷 期:2009年第17卷第12期

页      面:52-55页

学科分类:080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学] 

主  题:AOI 高密度互连 产能 

摘      要:高密度互连基板对精细线路的检查提出了更高的要求,文章论述了AOI在检查精细线路时面临的挑战与问题,对生产过程中精细线路的侦测提供了指引。

读者评论 与其他读者分享你的观点

用户名:未登录
我的评分