科学2#CCD抗辐照性能实验研究
Science2#CCD Experimental Study of Anti-radiation Performance作者机构：西安交通大学核科学与技术学院西安710025 海军装备部军械保障部北京100841 国家环境保护部核与辐射安全中心北京100088
出 版 物：《核电子学与探测技术》 (Nuclear Electronics & Detection Technology)
年 卷 期：2011年第31卷第6期
页 面：676-679页
核心收录：
学科分类：0810[工学-信息与通信工程] 070207[理学-光学] 07[理学] 08[工学] 081002[工学-信号与信息处理] 0702[理学-物理学]
摘 要：介绍了用于辐射成像系统中关键部件科学2#CCD辐照考核实验的方法、实验装置以及该CCD辐照前后成像能力的变化,给出主要性能指标:CCD成像灰度,随辐照时间的变化函数曲线,在线获取了CCD在其辐射工作环境下其性能随时间变化情况。得出有关CCD抗辐照性能的初步结论。
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