偏振激发能量色散X荧光法在地球化学分析中应用及其与波长色散X荧光法的比较

作     者：苏晓鸣 詹秀春 李思源 Su Xiaoming Xiuchun Zhan Li Siyuan ( Shenzhen Piezo - technology Co. , Ltd. ,Shenyi Building, Shennan Avenue, Shenzhen 518054 National Research Center of Geoanalysis, 26 Baiwanzhuang Road, Beijing 100037Li Siyuan, Shenzhen Institute of Measurement and Quality Inspection, Measurement andQuality Inspection Building, Longzhu Middle Avenue, 518055)

作者机构：深意压电技术有限公司深圳518054 国家地质实验测试中心北京100037 深圳市计量质量检测研究院深圳518055 

出 版 物：《上海地质》 (SHANGHAI GEOLOGY)

年 卷 期：2004年第3期

页      面：31-37页

学科分类：070902[理学-地球化学] 081704[工学-应用化学] 0709[理学-地质学] 07[理学] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术] 070302[理学-分析化学] 0703[理学-化学] 

基　　金：国土资源部地质大调查项目(200320130005-02) 

主　　题：偏振激发 能量色散 地球化学 x射线荧光光谱 XRF法 P-EDXRF 

摘      要：偏振激发能量色散X射线荧光光谱(P-EDXRF)技术是20世纪末出现的新分析技术。国内采用X-Lab2000型仪器的初步研究表明,在总计数时间为600秒时,可以对近30种元素进行定量,检出限为0.5-30μg/g,与国际上发表的文献值基本一致。本工作通过约100个实际样品分析,并与波长色散X射线荧光法(WDXRF)分析结果的比较,对P-EDXRF的分析性能进行了评价。与WDXRF相比,P-EDXRF法具有分析速度快、设备购置费用低、运行成本低、全谱同时采集(有利于发现元素含量异常)等优点,因此特别适合地球化学填图样品的快速分析。而WDXRF在精度要求较高的分析中更具竞争力。