基于EEG高阶过零分析的脑损伤检测新方法

作     者：邱天爽 X.Kong 

作者机构：大连理工大学电子与信息工程学院大连116024 Department of Electrical Engineering 

出 版 物：《中国生物医学工程学报》 (Chinese Journal of Biomedical Engineering)

年 卷 期：2003年第22卷第1期

页      面：16-22页

核心收录：

学科分类：0711[理学-系统科学] 07[理学] 08[工学] 080401[工学-精密仪器及机械] 0804[工学-仪器科学与技术] 080402[工学-测试计量技术及仪器] 

基　　金：国家自然科学基金资助项目 ( 30 170 2 5 9) 辽宁省科学技术基金资助项目 ( 2 0 0 110 10 5 7) 

主　　题：脑电图 脑损伤检测 高阶过零检测 缺氧窒息 

摘      要：目的 :提出基于高阶过零 (HOC)的方法并利用EEG检测由于缺氧窒息而引起的中枢神经系统损伤及对损伤程度进行定量评估。方法 :采用两种基于HOC的方法 ,一种为依据EEG信号序列统计分布特性的HOCSD(S距离 )法 ,另一种为依据预处理后EEG信号的谱特性的HOCCF法。结果 :对三类实验样本进行了检测 ,检测结果与神经缺欠值 (NDS)的相关性高达 96 %。结论 :实验数据分析表明 ,两种基于HOC的新方法对于检测由于缺氧窒息而引起的中枢神经系统损伤及对损伤程度进行定量评估具有一定的意义。