ICP-AES法测定纯铜中多种杂质元素
Determination of multielements in pure copper by ICP-AES作者机构：岛津国际贸易(上海)有限公司分析中心北京100020
出 版 物：《现代仪器》 (Modern Instruments)
年 卷 期：2006年第12卷第5期
页 面：23-23,20页
学科分类：08[工学] 080401[工学-精密仪器及机械] 0804[工学-仪器科学与技术] 081102[工学-检测技术与自动化装置] 0811[工学-控制科学与工程]
主 题：电感耦合等离子发射光谱法(ICP-AES) 纯铜 杂质元素
摘 要：本文采用电感耦合等离子发射光谱法(iCp-aeS)同时测定高纯铜中的多种杂质元素(p, mn, fe, ni, Zn, aS, Se, ag, Cd, Sn, Sb).优化仪器的工作条件,以基体匹配法配制工作曲线标样,有效地消除基体干扰.检出限为0.000004%～0.0001%,回收率在85.9%～105%范围内.方法简便、可满足工业分析要求.
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