电感耦合等离子体质谱法测定高纯钼中12种杂质元素
The determination of 12 trace-impurities in high purity molybdenum by inductively coupled plasma mass spectrometry作者机构：北京有色金属研究总院北京100088
出 版 物：《分析试验室》 (Chinese Journal of Analysis Laboratory)
年 卷 期：2011年第30卷第7期
页 面：18-21页
核心收录：
学科分类：081704[工学-应用化学] 07[理学] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术] 070302[理学-分析化学] 0703[理学-化学]
基 金：国家科技支撑计划 科研用高纯无机试剂核心单元物质及共性关键技术的研究与开发项目(2006BAF07B02)资助
主 题：电感耦合等离子体质谱法 反应池技术 高纯钼 杂质元素
摘 要：采用反应池技术消除了复合离子对Ca、Fe和Si等元素的干扰,以内标校正法直接测定了其它9种元素。优化选择了测定同位素和内标元素,考察了基体效应对测定结果的影响,建立了电感耦合等离子体质谱测定了高纯钼中12种杂质元素含量的方法。方法测定下限介于0.10～0.37μg/g之间,加标回收率为93%～105%,RSD10%。对钼粉和钼条两个实际样品进行了分析,测定结果表明,方法可满足4N～5N高纯钼产品的测定要求。
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