扫描电镜和环境扫描电镜在地学领域的应用综述
The Application Summary of Scanning Electron Microscope(SEM) And Environment Scanning Electron Microscope(ESEM) in Geoscience作者机构:中山大学地球科学系 中山大学测试中心广州510275
出 版 物:《中山大学研究生学刊(自然科学与医学版)》 (Journal of the Graduates Sun YAT-SEN University(Natural Sciences.Medicine))
年 卷 期:2008年第29卷第1期
页 面:54-61页
学科分类:081603[工学-地图制图学与地理信息工程] 081802[工学-地球探测与信息技术] 07[理学] 08[工学] 070503[理学-地图学与地理信息系统] 0818[工学-地质资源与地质工程] 080401[工学-精密仪器及机械] 0705[理学-地理学] 0804[工学-仪器科学与技术] 0816[工学-测绘科学与技术] 0803[工学-光学工程]
主 题:扫描电镜(SEM) 环境扫描电镜(ESEM) 地球科学 应用综述
摘 要:微区信息是现代物质信息研究的重要组成部分。利用扫描电镜捕捉物质微区信息具有分辨高、放大倍数大、景深大、立体感强、样品制备简单的优点,因而广泛应用于不同领域的研究。本文综述扫描电镜(SEM)和环境扫描电镜(ESEM)在矿物、岩石学、石油地质、工程地质、天文地质、古微生物学等不同地球科学领域的研究状况。结果表明扫描电镜(SEM)和环境扫描电镜(ESEM)在地学微区信息提取方面有不可代替的优势。