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基于IEEE1149标准的电子装备可测试性设计技术研究

Testability Design of Electrical Equipment Based on IEEE 1149 Standard

作     者:曲伟 Qu Wei

作者机构:中国船舶重工集团公司江苏自动化研究所江苏连云港222006 

出 版 物:《计算机测量与控制》 (Computer Measurement &Control)

年 卷 期:2010年第18卷第12期

页      面:2710-2712页

学科分类:08[工学] 081101[工学-控制理论与控制工程] 0811[工学-控制科学与工程] 081102[工学-检测技术与自动化装置] 

主  题:可测试性 IEEE1149标准 系统级测试 

摘      要:针对新型电子装备功能与结构复杂、测试诊断难度大的问题,基于IEEE1149标准,提出了电子装备可测试性设计方法,系统地分析了模块级产品可测试性设计的内容,提出了器件与测试接口设计要求,阐述了测试扫描链路设计方法,并进一步研究了测试信号完整性设计技术,并结合电子装备计算机体系结构,设计了系统级测试性设计框架;通过实际验证,该项技术对于边界扫描器件互连测试覆盖率达100%,可以提高装备测试性设计水平,满足了电子装备测试诊断的需求。

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