一种专用高速ECL移位寄存器电路的设计和测量

作     者：字宝俊 莫邦燹 倪学文 张利春 张广勤 Ning Baojun;Mo Bangxian;Ni Xuewen;Zhang Lichun;Zhang Guangqin

作者机构：北京大学微电子所北京100871 北京大学微电子所北京100871 北京大学微电子所北京100871 北京大学微电子所北京100871 北京大学微电子所北京100871 

出 版 物：《测试技术学报》 (Journal of Test and Measurement Technology)

年 卷 期：2002年第16卷第Z1期

页      面：731-735页

学科分类：08[工学] 080402[工学-测试计量技术及仪器] 0804[工学-仪器科学与技术] 

主　　题：多晶硅发射极晶体管 ECL移位寄存器 高速测量系统 

摘      要：介绍了由先进的多晶硅发射极NPN晶体管和高速ECL100E141电路单元构成的一块专用高速移位寄存器阵列的设计和主要参数的测量.提出一种移位寄存器最高工作频率的测量方法.该方法有效地消除由外部连线和外接器件及测试夹具所造成的寄生延迟对测试结果的影响,准确地测试出电路的最高工作频率.本电路并行输入输出和移位的最高工作频率为410MHz.该电路是为提高某些测试系统高频测量性能而设计的全功能移位寄存器阵列.其布局和结构合理灵活,可以方便地构成多种数据移位寄存方式,有利于使用和测量,具有一定的通用性.