一种新型NAND Flash坏块管理算法的研究与实现

作     者：乔立岩 张鹏 魏德宝 王世元 Qiao Liyan;Zhang Peng;Wei Debao;Wang Shiyuan

作者机构：哈尔滨工业大学自动化测试与控制研究所哈尔滨150080 

出 版 物：《电子测量技术》 (Electronic Measurement Technology)

年 卷 期：2015年第38卷第11期

页      面：37-41页

学科分类：08[工学] 081101[工学-控制理论与控制工程] 0811[工学-控制科学与工程] 081102[工学-检测技术与自动化装置] 

主　　题：NAND Flash 坏块管理 FPGA逻辑设计 

摘      要：本文在研究NAND Flash常用坏块管理方法的基础上,提出了一种基于FPGA的NAND Flash坏块管理方案。该方案运用坏块替换策略,将所有块分为数据块区和好块保留区,通过在FPGA片内RAM建立基于位索引的坏块位标记表BBT(bad block table)和块保留映射表RTT(reserved translate table)实现坏块的识别和替换,同时将两表保存于NAND Flash中,保证了坏块信息的非易失存储和坏块查询的高速性能。本方案全面考虑了坏块产生、坏块识别、坏块信息存储、坏块高速替换,是坏块管理的完整解决方案。经实验表明该方案具有坏块信息容量小、替换速度快、实现可靠等优点。