入射光束宽度对光透沉降法测量的分辨力影响研究
Research of resolution effect for the width of incidence beam in the measurement of photosedimention technique作者机构：南京工业大学材料科学与工程学院江苏南京210009
出 版 物：《光学仪器》 (Optical Instruments)
年 卷 期：2008年第30卷第1期
页 面：15-19页
学科分类：081702[工学-化学工艺] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术]
主 题：颗粒测量 光透沉降法 Chahine算法 分辨力 反演
摘 要：介绍了入射光束的宽度对仪器分辨力的影响,由于该宽度的存在使在用光透沉降法测量时很难清楚地分辨该宽度内存在的多种颗粒,降低了仪器的分辨力,对测量结果带来很大的误差。参照光散射模型,建立RRB分布的理想颗粒模型,并以此为基础对宽度降低仪器分辨力的问题进行理论分析。现用Chahine算法反演并改进算法以提高分辨力。结果也表明,改进后Chahine算法的确有很高的稳定性,其反演效果也非常明显。
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