TD-LTE逻辑小区中的区域联合检测
Area multiple channel detect technology in TD-LTE logical cell作者机构:上海贝尔股份有限公司上海201206
出 版 物:《电信工程技术与标准化》 (Telecom Engineering Technics and Standardization)
年 卷 期:2012年第25卷第7期
页 面:66-68页
学科分类:080904[工学-电磁场与微波技术] 0810[工学-信息与通信工程] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学] 080402[工学-测试计量技术及仪器] 0804[工学-仪器科学与技术] 081001[工学-通信与信息系统]
摘 要:本文详细介绍了在TD-LTE逻辑小区的覆盖中区域检测技术的原理及多信道联合检测技术在逻辑小区中的应用。本文首先论述了逻辑小区覆盖的意义及其基本应用场景,然后介绍了区域检测的重要性以及各种单信道区域检测技术,着重分析了多信道联合检测的原理及其优点。