表面粗糙氢化非晶硅薄膜光学常量的确定
Determination of Optical Constants of Rough Hydrogenated Amorphous Silicon Thin Films作者机构：河北大学物理科学与技术学院河北省光电信息材料重点实验室河北保定071002
出 版 物：《光学学报》 (Acta Optica Sinica)
年 卷 期：2013年第33卷第3期
页 面：326-331页
核心收录：
基 金：国家自然科学基金(60940020) 河北省自然科学基金(E2012201059) 河北省重点基础研究项目(12963930D)资助课题
主 题：薄膜 氢化非晶硅薄膜 表面粗糙系数 透射光谱 光学常量
摘 要：由于光学薄膜的透射光谱和反射光谱受表面粗糙程度的影响很大,因此在确定表面粗糙薄膜的厚度及光学常量时,如果不考虑这种影响必然会引起较大的误差。利用标量波散射理论,引入表面均方根粗糙系数,对粗糙薄膜表面的光散射进行了细致分析,得出了光散射影响下薄膜系统透射系数的表达式。在此基础上计算的薄膜厚度以及透射光谱与制备的氢化非晶硅薄膜的相应测量结果基本一致,由此确定的光学常量也更接近实际量值。该方法的运算过程不基于最小值优化算法,无需复杂软件辅助,是准确确定表面粗糙薄膜的厚度以及光学常量的一种有效方法。
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