测量表面形状的ESPI技术
An ESPI Technigue for Measuring Surface Shape作者机构：中国科学技术大学力学系合肥230026
出 版 物：《量子电子学》 (Chinese Journal of Quantum Electronics)
年 卷 期：1991年第8卷第2期
页 面：254-262页
核心收录：
学科分类：080901[工学-物理电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 080401[工学-精密仪器及机械] 0804[工学-仪器科学与技术] 0803[工学-光学工程]
基 金：国家自然科学基金
摘 要：本文提出了一种利用电子散斑干涉法(ESPI)检测漫射表面三维轮廓的新方法。并应用该方法具体测量了斜面、柱面和球面三种不同形状的表面轮廓。文中介绍了检测光路,推导了计算公式,讨论了测量灵敏度的调节问题。最后,还就实验误差、该方法的优点和不足进行了分析。所有相关条纹图和实验数据,均由交互式高速图像处理系统和微机进行处理和分析。
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