基于切伦科夫探测器的高能双能X射线物质有效原子序数检测

作     者：李树伟 康克军 王义 李金 李元景 张文剑 张清军 LI Shu-wei;KANG Ke-jun;WANG Yi;LI Jin;LI Yuan-jing;ZHANG Wen-jian;ZHANG Qing-jun

作者机构：清华大学工程物理系北京100084 粒子技术与辐射成像教育部重点实验室北京100084 同方威视技术股份有限公司北京100084 

出 版 物：《核电子学与探测技术》 (Nuclear Electronics & Detection Technology)

年 卷 期：2010年第30卷第8期

页      面：1012-1015页

核心收录：

学科分类：082703[工学-核技术及应用] 08[工学] 0827[工学-核科学与技术] 

主　　题：切伦科夫探测器 双能 X射线 有效原子序数 

摘      要：介绍了采用切伦科夫探测器在高能双能X射线物质有效原子序数检测中的应用优势。采用电子加速器产生的X射线源的双能物质有效原子序数检测中,由于能量较低的X射线(低于0.5 M eV)占有重要的份额,其光电效应的存在干扰物质有效原子序数的检测,故一般需要加滤波材料降低其数量从而改善检测效果。切伦科夫探测器由于对X射线有探测阈值要求,可以不用加滤波材料即可实现物质检测功能;另外,对高能X射线有更好的相对能量响应是其在此方面应用的另一个优势。通过在一个双能检查系统(采用6 M eV和3 M eV电子加速器)的实验证明了这种设想,实验结果和预期的设想以及模拟计算结果相吻合。