基于同步辐射软X射线能区的Al和Fe薄膜光吸收截面的初步研究(英文)
Determination of the Photoabsorption Cross-Sections of Al and Fe Films in the Soft X-Ray Region Using Synchrotron Radiation作者机构:中国科学院高能物理研究所北京100039
出 版 物:《高能物理与核物理》 (High Energy Physics and Nuclear Physics)
年 卷 期:2004年第28卷第10期
页 面:1121-1125页
核心收录:
学科分类:02[经济学] 0202[经济学-应用经济学] 020208[经济学-统计学] 07[理学] 08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 0714[理学-统计学(可授理学、经济学学位)] 070103[理学-概率论与数理统计] 0701[理学-数学]
基 金:国家自然科学基金资助 (10 3 740 88)~~
主 题:光吸收 软X射线 截面 吸收边 大偏差 近似方法 薄膜 初步研究 实验结果 测量值
摘 要:利用北京同步辐射装置 (BSRF) 3W1B光束线产生的单色软X射线分别测定了Al和Fe薄膜在L2 ,3吸收边附近的光吸收截面 .测量值与理论值比较在远离吸收边时偏差较小 ,并逐渐趋于一致 ,在吸收边附近有较大偏差 ,这主要归因于理论计算所采用的独立电子近似方法在吸收边附近是无效的 .测量结果与若干文献中的实验结果也进行了对比 .虽然由于光束线分辨率和高次谐波的影响 ,实验结果和理论结果在实验能区有一定的偏差 ,但测量结果说明用薄膜透过率测定金属薄膜光吸收截面的方法是可行的 .