旋转波片法偏振检测装置器件参数校准
Calibration of Rotating Quarter-Wave Method Based Polarimeter作者机构:中国科学院上海光学精密机械研究所信息光学与光电技术实验室上海201800 中国科学院大学北京100049
出 版 物:《光学学报》 (Acta Optica Sinica)
年 卷 期:2013年第33卷第9期
页 面:166-171页
核心收录:
学科分类:0808[工学-电气工程] 070207[理学-光学] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 07[理学] 08[工学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 0803[工学-光学工程] 0702[理学-物理学]
基 金:国家自然科学基金(60938003 61205102 61275207) 科技部国际科技合作专项(2011DFR10010)
主 题:测量 偏振检测 校准 器件参数 斯托克斯参量 旋转波片法
摘 要:波片相位延迟量误差、快轴角度误差和检偏器透光轴角度误差是影响基于旋转波片法的偏振检测装置测量精度的主要因素。通过对波片和检偏器参数进行校准,可有效提高检测装置测量精度。针对现有校准方法操作复杂的不足,提出一种偏振检测装置器件参数校准新方法。该方法以水平线偏振光[1,1,0,0]T作为标准参考光,分别在检偏器方位角为0°和45°时,对标准参考光各进行一次测量,计算得出器件参数误差,从而实现偏振检测装置器件参数校准。实验结果表明,通过器件参数校准,偏振检测装置测量误差由原来的3%降低至0.87%以内。