一种多层薄膜电路故障检测的算法
A DEFECTION CHECKING ALGORITHM FOR MULTILAYER THIN-FILM CIRCUIT作者机构：清华大学电子工程系北京100084
出 版 物：《模式识别与人工智能》 (Pattern Recognition and Artificial Intelligence)
年 卷 期：2000年第13卷第3期
页 面：327-331页
核心收录：
学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学]
摘 要：通常的电路故障检测方法有直接比较和非直接比较两类。本文结合了它们的优点,对多层薄膜电路故障检测的方法进行了研究,提出了一种基于直接比较和缺陷描述的检测算法,在速度和正确率上达到了满意的结果,可在实际的工业检测中应用。
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