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高重复频率脉冲激光谱线宽度的测量方法

Measurement of spectroscopic width of pulsed laser using scanning etalon

作     者:李润华 龚顺生 

作者机构:中山大学激光与光谱学研究所中国科学院武汉物理研究所 

出 版 物:《激光技术》 (Laser Technology)

年 卷 期:1994年第18卷第6期

页      面:366-369页

核心收录:

学科分类:080901[工学-物理电子学] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学] 080401[工学-精密仪器及机械] 0804[工学-仪器科学与技术] 0803[工学-光学工程] 

主  题:扫描标准具 脉冲激光 等倾干涉 谱线宽度 

摘      要:本文介绍了一种用扫描标准具配合检测系统测量重复频率脉冲激光线宽的方法,分析了造成测量误差的几种相关因素,并指出了测量中应该注意的几个问题,实验测定了几种不同染料激光器输出激光的线宽。

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