连续谱X射线在ICT中的能谱硬化修正模型

作     者：彭光含 杨学恒 韩忠 蒲兴成 PENG Guang-han;YANG Xue-heng;HAN Zhong;PU Xing-cheng

作者机构：重庆大学数理学院重庆400044 重庆邮电学院计算机学院 

出 版 物：《光谱学与光谱分析》 (Spectroscopy and Spectral Analysis)

年 卷 期：2005年第25卷第11期

页      面：1880-1883页

核心收录：

学科分类：070207[理学-光学] 07[理学] 08[工学] 081203[工学-计算机应用技术] 0804[工学-仪器科学与技术] 0703[理学-化学] 0835[工学-软件工程] 0803[工学-光学工程] 0702[理学-物理学] 0812[工学-计算机科学与技术（可授工学、理学学位）] 

基　　金：国家科委"八五"火炬计划项目资助 

主　　题：连续谱 X射线 ICT 硬化修正模型 

摘      要：X射线ICT中,由于连续谱X射线源在穿过物质时,能量较低的射线优先被吸收,也即较高能量的X射线的衰减系数比较低能量的X射线的衰减系数小,射线随透射厚度增大,变得更易穿透,也就是发生了能谱硬化现象。如不加修正,必引起赝像。文中对能谱硬化现象进行实验和理论上的分析,探讨了在均匀物质中,X射线的衰减系数与透射厚度的关系,提出新的能谱硬化修正方法和严谨精确的能谱硬化修正模型。