运算放大器SET效应的试验研究
Experimental Research on SET Effects of Operational Amplifier作者机构:中国科学院空间科学与应用研究中心北京100190 中国电子科技集团公司第二十四研究所模拟集成电路国家级重点实验室
出 版 物:《空间科学学报》 (Chinese Journal of Space Science)
年 卷 期:2010年第30卷第2期
页 面:170-175页
核心收录:
学科分类:080902[工学-电路与系统] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 08[工学]
摘 要:模拟器件的单粒子瞬态脉冲效应的研究,成为近来国际上单粒子效应研究的热点.针对中国生产的运算放大器SF3503,利用脉冲激光单粒子效应测试装置,试验研究了SF3503工作于反相放大器与电压比较器模式SET效应的特征与规律.获取了器件的敏感节点分布、LET阈值和SET脉冲波形的特征参数,其中器件的敏感节点均分布在输入级与放大级,LET阈值不大于1.2 MeV·cm~·mg^(-1),电压比较器产生的最大SET脉冲的幅度达27V、脉冲宽度为51μs.试验表明SF3503对SET效应极其敏感,在不采取任何措施的情况下,在空间任务中直接使用,会严重影响系统的可靠性.