Wolter型X射线嵌套望远镜成像质量分析

作     者：赵大春 陈波 刘鹏 何玲平 Zhao Dachun;Chen Bo;Liu Peng;He Lingping

作者机构：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所吉林长春130033 中国科学院大学北京100049 

出 版 物：《光学学报》 (Acta Optica Sinica)

年 卷 期：2016年第36卷第3期

页      面：84-90页

核心收录：

学科分类：070207[理学-光学] 0808[工学-电气工程] 07[理学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 0702[理学-物理学] 

基　　金：中国科学院长春光机所创新基金(Y3CX1SS145) 

主　　题：成像系统 X射线望远镜 分辨率 MT_RAYOR 面形误差 

摘      要：X 射线成像技术在空间探测中的应用日渐广泛，为了提高孔径利用率和系统有效面积，通常采用Wolter-Ⅰ型嵌套望远镜对空间X 射线源进行会聚成像。由于传统的光学设计软件在分析掠入射系统方面存在一定的缺陷，因此使用MT_RAYOR 工具库自编程对X 射线望远镜进行成像质量分析。MT_RAYOR 用于Wolter-Ⅰ型嵌套结构望远镜系统的分析，具有全面、准确和快捷的优势。基于MT_RAYOR，对用于0.2-20 keV 波段成像的嵌套型双锥结构望远镜进行了系统设计，从有效面积、点扩展函数、能量集中度等方面进行了成像质量分析。该结构在10 keV 以内保持500 cm2 以上的稳定有效面积，在硬X 射线波段的有效面积也可达到250 cm2 以上，系统工作波段跨度大、稳定性高。分析了辐条和反射面的面形误差对系统在实验中成像质量的影响，对望远镜系统的优化和装调具有指导作用。