一种数模转换器的动态闩锁试验方法
Dynamic Latch Test Method of Ditital-to-analog Converter作者机构：中国电子科技集团公司第五十八研究所江苏无锡214072
出 版 物：《电子与封装》 (Electronics & Packaging)
年 卷 期：2019年第19卷第2期
页 面：35-37,41页
学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学]
主 题：互补金属氧化物半导体 集成电路 动态闩锁
摘 要：CMOS器件结构会引起闩锁效应,国内外目前有相关标准来检测集成电路的抗闩锁能力,但大部分集成电路的闩锁试验都是在电路静态工作下进行试验。该论文根据相关试验标准,结合典型集成电路动态工作情况,研究集成电路的动态闩锁能力。
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