X射线荧光光谱法测定硅石、硅砖的主次成分
Determination of Leading and Secondary Compositions in Silica and Silica Brick by X-ray Fluorescence Spectrometry作者机构：鞍钢股份有限公司技术中心辽宁鞍山114009
出 版 物：《鞍钢技术》 (Angang Technology)
年 卷 期：2012年第5期
页 面：24-27页
学科分类：081704[工学-应用化学] 07[理学] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术] 070302[理学-分析化学] 0703[理学-化学]
摘 要：利用高温熔融制备硅石、硅砖样品,应用X射线荧光光谱法测定硅石、硅砖中SiO2、Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3等主次成分的百分含量。通过国家标准物质和合成校准样品制作校准曲线,研究了熔剂的选择及其与样品的稀释比例,脱膜剂加入量对制样重现性的影响,探讨了采用差量法计算所得结果的准确性。实验结果表明,该方法的测定值与标准认定值一致,相对标准偏差小于5%,满足了硅石中常见组分快速分析的要求。
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