新一代大规模集成电路高温动态老化测试系统的研制
Development of New Generation High Temperature Dynamic VLSI Burn-in Test System作者机构：浙江大学电子信息技术与系统研究所杭州310027
出 版 物：《电子测量与仪器学报》 (Journal of Electronic Measurement and Instrumentation)
年 卷 期：2002年第16卷第2期
页 面：5-9页
学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 0804[工学-仪器科学与技术]
摘 要：本文充分利用分布式网络控制、可编程ASIC技术及数据库技术 ,在我国第三代集成电路高温动态老化系统BTI2 0 0 0的基础上 ,研制开发了新一代大规模集成电路高温动态老化系统 。
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